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2016年2月28日 - 2016年3月5日

2016年3月 1日 (火)

ひずみ再測定(差し替え)

前回発表したショットキーを使用した回路および前々回の新回路において、ひずみ特性のグラフに問題がありましたので記事中において差し替え訂正をおこないました。問題のあったグラフは図2に示すように10KHzのデータが大きくディップしており、原因を調べたところ測定に使ったサウンドカードSoundBlasterX-Fi FATAL1TYのデバイスドライバに原因があるらしく、MMEからASIOに替えたところ問題のディップがなくなり、100Hz、1KHzに近い測定結果となりました。100Hz、1KHzについては今回の再測定においてもほぼ再現しました。今回の新しい測定結果を図1に示します。
なお、スイッチングダイオードを使用した前々回の新回路のデータについても同じ問題が見られますが、実験回路を解体してしまったため、100Hz、1KHzのデータはそのまま採用し、10KHzのデータのみ無視することとします。

Asio_2
       図1.ショットキー使用回路(再測定)

Photo

           図2.旧測定結果


以前の測定では10KHzのデータもほぼ100Hz、1KHzに近いデータがとれており、特に問題はないと判断していましたが、今回からなぜ問題が出てきたのかはわかりません。
やはりおかしいと思ったことは調べないとだめですね。あぶなく見過ごすところでした。

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